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Une grande expertise pour de petites particules – Journées experts sur la caractérisation des particules chez LUM France

Les 24 et 25 juin, LUM France et LUM GmbH organisent les journées expertssur la caractérisation des particules dans les locaux de LUM France à Plaisir (Paris). Les clients Français sont cordialement invités à une formation théorique sur les appareils de mesure LUM GmbH et à se convaincre des avantages en mesurant leurs propres échantillons. Cette fois, l’accent est porté sur le LUMiSpoc®.

LUMiSpoc® est un système avancé pour l’analyse de particules, similaire à un cytomètre de flux, qui mesure la distribution granulométrique et la concentration en micro- et nano- particules dans des suspensions et émulsions avec une résolution et une gamme dynamique sans précédent. L’instrument la SPLS Technology®, une technologie brevetée qui enregistrela lumière diffusée devant et diffractée sur le côté un lors du passage des particules dans une section illuminée par un faisceau laser spécifique. Il fournit un aperçu approfondi des systèmes complexes de nanoparticules et de microparticules qui peuvent être utilisés pour concevoir dispersions techniques sur mesure.

Nos experts, Elia Wollik et Sylvain Gressier donneront des conférences indivuduelles sur place et animeront un webinaire. Elia Wollik est spécialiste produit senior chez LUM GmbH, spécialisé dans l’analyse des nanoparticules et les techniques de mesure optique laser. Son travail se concentre sur le développement et l’optimisation des instruments d’analyse, l’identification de nouveaux domaines d’application et le soutien aux collaborations de recherche et développement ainsi qu’à l’analyse d’échantillons spécifiques pour nos clients. Il a été impliqué de manière significative dans le développement et le lancement sur le marché du LUMiSpoc®. Elia Wollik est titulaire d’un master en technologie pharmaceutique et chimique avecune spécialisation en analyse de particules et en diffusion de la lumière.

Sylvain Gressier, diplômé de l’Université d’Evry Val d’Essonne en génétique humaine, puis chargé de développement commercial puis directeur de la filiale Française de LUM GmbH,possède 13 années d’une expérience pratique et théorique inégalée en Francedans l’utilisation des appareils de mesure LUM pour la caractérisation des micro- et nanoparticules, pour les tests accélérés de la stabilité des dispersions et émulsions ainsi que pour les tests sur les matériaux. En collaborant avec des entreprises industrielles et en participant à des colloques et conférences scientifiques et académiques internationaux, il aligne les besoins des utilisateurs avec les solutions techniques et commerciales actuelles et futures du LUM. Lors du 14ème Congrès Mondial de la Filtration (WFC 14) à Bordeaux du 30 juinau 4 juillet, Sylvain Gressier donnera une conférence sur le thème : Efficacité de filtration contrôlée par le comptage et le dimensionnement de s particules à l’aide de la Technologie de diffusion de la Lumière de Single Particle ® (SPLS).

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