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LumiTop guarantees the quality of μLED arrays in AFS applications
Due to the intelligent combination of instantaneous spectroradiometric reference measurement and camera-based color- and brightness measurement, the LumiTop system from Instrument Systems is predestined for use in the quality inspection of µLED modules. At Light+Building in Frankfurt Hall 8.0 H38, Instrument Systems will be showcasing its spectrally exhanced LumiTop 4000 2D imaging colorimeter for testing μLED arrays in AFS applications. The 12 MP camera simultaneously measures the individual LEDs of the array, and due to its high measurement speed, it avoids the temperature-dependence of high-performance LEDs. In combination with a high-end CAS 140D spectroradiometer, the system – calibrated to luminance (in cd/m2) – delivers highly accurate measured values. In particular,…
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LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen
Die intelligente Kombination aus instantaner spektralradiometrischer Referenzmessung und kamerabasierter Farb- und Helligkeitsmessung prädestiniert das LumiTop-System von Instrument Systems für die Qualitätsprüfung von µLED-Modulen. München, September 2022 – Instrument Systems zeigt auf der Light+Building in Frankfurt Halle 8.0 H38 seine spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop 4000 zur Prüfung von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen. Die 12 MP Kamera misst die Einzel-LEDs des Arrays simultan und umgeht durch ihre hohe Messgeschwindigkeit die Temperaturabhängigkeit von Hochleistungs-LEDs. In Kombination mit einem High-end Spektralradiometer CAS 140D liefert das auf Leuchtdichte (in cd/m2) kalibrierte System hochgenaue Messwerte. Dadurch ist es insbesondere für die Qualitätskontrolle von Gleichförmigkeit, Helligkeit und Farbe bei μLED-Arrays hervorragend geeignet. Neue adaptive Frontbeleuchtungssysteme (AFS) verwenden μLED-Arrays…
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Instrument Systems extends its core business segments Display Testing and Optical Measurement
Instrument Systems GmbH (Instrument Systems), a German manufacturer of high-precision spectroradiometers, cameras and complex display and light measurement systems, has extended its core business segments Display Testing and Optical Measurement through the acquisition of a Korean manufacturer of display measurement systems. A share purchase agreement has been signed to acquire a 100 % shareholding in Kimsoptec Co., Ltd. (Kimsoptec), a display measurement equipment manufacturer and exclusive distributor of the Instrument Systems product portfolio in Korea since 2005. Instrument Systems is a wholly owned subsidiary of Konica Minolta Inc., Japan (Konica Minolta). The company today announced that it has expanded its engagement in the Korean market by acquiring Kimsoptec, a technical…
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Instrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik
Instrument Systems GmbH (Instrument Systems), ein Münchner Hersteller von hochpräzisen Spektralradiometern, Kameras und komplexen Display- und Lichtmesssystemen, übernimmt koreanischen Hersteller von Displaymesssystemen, um seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik zu stärken. Der Kaufvertrag über den Erwerb von 100 % der Anteile an Kimsoptec Co., Ltd. (Kimsoptec), seit 2005 exklusiver Distributor des Instrument Systems Produktportfolios in Korea und Hersteller von Displaymessgeräten, wurde unterzeichnet. Instrument Systems ist eine 100%ige Tochter von Konica Minolta Inc., Japan (Konica Minolta). Das Unternehmen gab heute bekannt, dass es sein Engagement auf dem koreanischen Markt durch die Übernahme von Kimsoptec verstärkt, einem technischen Beratungsunternehmen und Hersteller von optischen Messgeräten, der bereits seit 2005 exklusiv die Lösungen…
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New CIE report on spectroradiometry
Under the scientific direction of Instrument Systems, the Technical Committee TC2-80 of the CIE has prepared a new technical report on the spectroradiometric measurement of optical radiation sources. The document, published as CIE 250:2022, supersedes the almost 40-year-old report CIE 063-1984. Practically oriented, it explains the basic measurement principles and provides practical instructions for the measurement of irradiance, radiation density, radiation intensity and radiant flux, including instrument calibration. In addition, the report describes in detail the physical effects relevant to spectroradiometric measurements, and in particular the estimation of measurement uncertainties. The measurement uncertainties occurring in every measurement quantitatively determine the accuracy of the calibration chain for traceable measured values. At…
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Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie
Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen erstellt. Das jetzt als CIE 250:2022 veröffentlichte Dokument löst den fast 40 Jahre alten Bericht CIE 063-1984 ab. Praxisorientiert erklärt er die grundlegenden Messprinzipien und gibt praktische Hinweise für die Messung von Bestrahlungsstärke, Strahlungsdichte, Strahlungsintensität und Strahlungsfluss sowie die Instrumenten-Kalibrierung. Darüber hinaus beschreibt der Bericht detailliert die physikalischen Effekte, die für spektralradiometrische Messungen und insbesondere die Abschätzung von Messunsicherheiten relevant sind. Die bei jeder Messung auftretenden Messunsicherheiten bestimmen für rückführbare Messwerte quantitativ die Genauigkeit der Kalibrierkette. Auf der Light+Building in Frankfurt erfahren die Besucher am Stand von…
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Far-field analysis of infrared sources
The infrared camera VTC 2400 from Instrument Systems was developed specifically for the far-field analysis of IR emitters and designed for use in both the lab and production environment. It is recommended for the analysis of VCSEL applications, such as 3D-sensing in smartphones or LiDAR systems in the automotive industry. The cost-effective system consists of a light-permeable, diffusely scattering screen and a monochrome camera specially designed for measurements in the near infrared range. The visualization of the spatial radiation properties of the radiation source on an additional screen makes for a highly flexible measurement setup. A traceable calibration of the VTC 2400 further guarantees a minimum error budget. Manufacturers are…
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Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen
Die Infrarotkamera VTC 2400 von Instrument Systems ist passgenau für die Fernfeldanalyse von IR-Emittern entwickelt und sowohl für den Einsatz in Labor als auch Produktion ausgelegt. Sie ist spezialisiert auf die Analyse von VCSEL-Applikationen, wie 3D-Sensing in Smartphones oder LiDAR-Systemen in der Automobilindustrie. Das kosteneffiziente System besteht aus einem lichtdurchlässigen, diffus streuenden Schirm und einer auf Messungen im nahen Infrarot spezialisierten Monochromkamera. Die Visualisierung der Abstrahlcharakteristik der Strahlungsquelle auf einem zusätzlichen Schirm macht den Messaufbau sehr flexibel. Die rückführbare Kalibrierung der VTC 2400 garantiert zudem ein minimales Fehlerbudget. Hersteller können hierdurch die volle Leistungseffizienz von VCSEL ausschöpfen und gleichzeitig einen sicheren Betrieb gewährleisten. Ihre einzigartigen Eigenschaften machen oberflächenemittierende Laser mit…
