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    Zeitgemäßes Testverfahren deckt Einsparpotential in der Elektronikfertigung auf:

    Produzierende Unternehmen haben für Einsparpotentiale ohne Qualitätseinbußen immer ein offenes Ohr. Die Entwicklung des Smart ICT aus dem Hause ProMik® eröffnet aktuell solch eine Perspektive im Bereich der industriellen Fertigung. In seiner Kernfunktion ersetzt der Smart ICT ein großes Spektrum konventioneller In-Circuit-Test (ICT) Anwendungen. In seiner gesamten Funktionsweise kann er auf unterschiedliche Ebenen zu einer deutlichen Kostenersparnis beitragen. Der In-Circuit-Test ist heute noch ein fest etablierter Bestandteil in einer Vielzahl von Fertigungsprozessen elektronischer Baugruppen. Trotz zeitintensiver Durchführung, insbesondere bei hoher Taktung, ist das Prüfverfahren nicht wegzudenken. Schwankende Rahmenbedingungen, neue Technologien und steigende Anforderungen stellen die Hersteller von elektronischen Baugruppen vor große Herausforderungen, eröffnen aber ebenso neue Chancen. Aus dieser Situation…