Siglent stellt Vektor-Netzwerkanalysatoren der Serie SNA5000X-E für den europäischen Markt vor

In ganz Europa werden HF-Funktionen zunehmend in Embedded-Systeme, Funkmodule, Sensorsysteme, industrielle Steuerungen sowie Automotive-Subsysteme integriert. Entsprechend steigt der Bedarf an zuverlässiger S-Parameter-Messtechnik nicht mehr nur in spezialisierten HF-Laboren, sondern auch in klassischen Elektronikentwicklungsumgebungen. Viele Entwicklungsteams stehen dabei jedoch weiterhin vor einer Lücke zwischen einfachen skalaren Messmethoden und kostenintensiven Mikrowellen-Vektor-Netzwerkanalysatoren. Mit der Einführung der speziell für den europäischen Markt verfügbaren 3-GHz- und 6,5-GHz-Varianten der Serie SNA5000X-E adressiert Siglent genau diesen Bedarf und stellt eine kompakte sowie wirtschaftliche Lösung für die in Embedded- und Industrieanwendungen typischen Frequenzbereiche bereit.

Die Serie SNA5000X-E unterstützt vollständige Zweitor-S-Parameter-Messungen im Frequenzbereich von 9 kHz bis 3 GHz beziehungsweise 6,5 GHz und ermöglicht damit die präzise Charakterisierung von Filtern, Anpassnetzwerken, HF-Verstärkern, Antennen sowie hochfrequenten Verbindungselementen in Funkmodulen und Signal-Integrity-Untersuchungen. Der große Frequenzbereich ist insbesondere bei breitbandigen Anpassnetzwerken und Mixed-Signal-Schaltungen von Vorteil, bei denen der Impedanzverlauf bereits in frühen Entwicklungsphasen über einen großen Frequenzbereich hinweg verifiziert werden muss.

Mit einem typischen Dynamikbereich von bis zu 125 dB bieten die Geräte die notwendige Empfindlichkeit zur Analyse sowohl passiver Komponenten wie Dämpfungsgliedern und Filtern als auch aktiver Baugruppen wie Verstärkerstufen und HF-Frontend-Modulen. Dadurch lassen sich auch Anwendungen zuverlässig charakterisieren, bei denen hohe Sperrdämpfungen oder sehr kleine Reflexionsfaktoren präzise bestimmt werden müssen.

Integrierte Kalibriermethoden wie SOLT und TRL ermöglichen genaue Messergebnisse sowohl im klassischen Laboraufbau als auch bei Messungen über Adapter, Leiterplatten-Teststrukturen oder kundenspezifische Prüfaufbauten. Dies ist insbesondere in praxisnahen Entwicklungsumgebungen relevant, in denen Messungen häufig unter realen Integrationsbedingungen durchgeführt werden.

Neben der frequenzdomänenbasierten S-Parameter-Analyse unterstützt die Serie SNA5000X-E auch Zeitbereichstransformationen zur Lokalisierung von Diskontinuitäten entlang von Kabeln, Steckverbindern und Leiterplatten-Übertragungsstrukturen. Diese Funktion erleichtert die Fehlersuche während der Prototypenvalidierung und unterstützt Optimierungsprozesse im Bereich Signal Integrity bei schnellen digitalen und HF-Verbindungen.

Darüber hinaus ermöglichen differenzielle und symmetrische Messverfahren die Analyse moderner Signalpfade, wie sie zunehmend in Mixed-Signal- und HF-Systemen eingesetzt werden, um Störfestigkeit und EMV-Eigenschaften zu verbessern. Funktionen zur Simulation von Testfassungen und zum De-Embedding erlauben es, den Einfluss von Messaufbauten rechnerisch zu entfernen und damit das tatsächliche Verhalten des Prüflings präziser zu bewerten. Dies verbessert insbesondere die Vergleichbarkeit zwischen Simulation und Messung im Entwicklungsprozess.

Empfängerbasierte Messfunktionen erweitern den Einsatzbereich des Systems zusätzlich für Anwendungen, bei denen Übertragungs- oder Konversionseigenschaften innerhalb von HF-Subsystemen analysiert werden müssen. Die integrierte Spektrumanalysefunktion erhöht darüber hinaus die Signaltransparenz bei Fehlersuche und Validierung, ohne dass zusätzliche Messgeräte erforderlich sind. Gerade in kompakten Entwicklungslaboren und Ausbildungseinrichtungen verbessert dies die Effizienz bestehender Messplätze deutlich.

Über LAN- und USB-Schnittstellen sowie SCPI-basierte Fernsteuerung lässt sich die Serie SNA5000X-E einfach in automatisierte Testumgebungen integrieren. Dadurch eignet sich das System sowohl für reproduzierbare Produktionsprüfungen als auch für den Einsatz in Ausbildungslaboren. Eine große Multi-Window-Touchscreen-Benutzeroberfläche ermöglicht die gleichzeitige Darstellung mehrerer S-Parameter und erleichtert damit die Interpretation komplexer HF-Zusammenhänge während der Messung.

Typische Einsatzbereiche umfassen die Validierung eingebetteter Funkmodule, die Antennenanpassung, die Charakterisierung von HF-Filtern, Tests von Kabeln und Verbindungselementen sowie Signal-Integrity-Analysen in Mixed-Signal-Systemen und den Einsatz in der HF-Ausbildung. Durch die Unterstützung dieser Anwendungen innerhalb der in Europa besonders häufig benötigten Frequenzbereiche ermöglicht die Serie SNA5000X-E präzise Impedanz- und Übertragungsmessungen bereits in frühen Entwicklungsphasen und trägt so zur Reduzierung von Entwicklungszyklen und zur Verbesserung der Produktzuverlässigkeit bei.

Mit der Einführung der Modelle mit 3 GHz und 6,5 GHz erweitert Siglent sein Portfolio im Bereich der Vektor-Netzwerkanalyse gezielt um eine wirtschaftliche Einstiegslösung für professionelle HF-Messaufgaben im europäischen Markt.