Hochschule Osnabrück erhält iF DESIGN AWARD

ZEISS OMNIA GTC ist für die Prüfung großer Gussteile konzipiert, wie sie beispielsweise in der modernen Automobilproduktion verwendet werden. Es nutzt Röntgentechnologie, um präzise 2D-Aufnahmen zu erstellen. Durch sein Design kann das System große Bauteile zerstörungsfrei in einem einzigen Scanvorgang erfassen, wodurch die Prüfzeit verkürzt wird. Es trägt so zur Optimierung von Produktionsprozessen bei. Gleichzeitig ermöglicht es die frühzeitige Erkennung von Materialfehlern, was Ausschuss und nachgelagerte Produktionsprobleme reduziert.

Durchdachtes Design für eine intuitive Bedienung

Das Design der Anlage ist auf Funktionalität und Benutzer*innenfreundlichkeit ausgelegt: „In der industriellen Produktion, insbesondere bei komplexen Systemen wie der ZEISS OMNIA GTC, ist Design nicht nur eine Frage der Ästhetik, sondern vor allem der Funktionalität und Sicherheit. Gerade bei großen, hochtechnologischen Anlagen kann ein durchdachtes Design den Unterschied zwischen effizienter Nutzung und operativen Herausforderungen ausmachen. Klare visuelle Signale reduzieren Fehlerquellen und erhöhen die Benutzer*innenfreundlichkeit – ein entscheidender Faktor in Umgebungen, in denen Präzision und Zuverlässigkeit unverzichtbar sind“, sagt Prof. Thomas Hofmann, Professor für Produktdesign (Ergonomie und Usability) an der Hochschule Osnabrück.

OMNIA GTC ist das erste System von ZEISS IQS, das nach der neuen Designsprache des Unternehmens gestaltet wurde. Die Entwicklung erfolgte in Zusammenarbeit mit der Hochschule Osnabrück.

Hintergrund:

Der iF DESIGN AWARD wird jährlich an Projekte verliehen, die sich durch innovative Gestaltung und gesellschaftliche Relevanz auszeichnen. Die Auszeichnung basiert auf einer Bewertung durch eine internationale Jury.